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wangxf210

禁虫 (小有名气)

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makuna

木虫 (正式写手)

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Ultra small angle XRD
或者GIXRD
这两种方法都可行

200nm蛮厚了 呵呵
哈哈nano我来了
20楼2012-06-02 11:17:37
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olivia0532

木虫 (著名写手)

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lchpy: 金币+1, thanks for your information~ 2012-05-31 20:59:47
用XRD小角度掠射,具体角度看自己的情况而定,镀膜前后分别测定后作对比,去除基底的峰,然后用Jada计算分析

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
4楼2012-05-30 19:43:58
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jluxiaoxi

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

引用回帖:
5楼: Originally posted by wangxf210 at 2012-05-31 08:04:13
我做了一个,是用环氧做固定基底,出来只有环氧的土包~其他的没有峰...

你是把衬底和样品片都打了一遍吗  只测基地或者样品肯定是个波包啊 我们同学做ZnO薄膜的 也就几十个纳米  用我的这个方法都能测试呢
如果真的没有 也许说明你的材料结晶性很不好 因为你是用的模板法做的啊
12楼2012-06-01 09:16:17
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boyshen

至尊木虫 (正式写手)

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200nm普通法就可以了,如果觉得衍射峰很弱可以考虑薄膜法小角掠射
13楼2012-06-01 09:42:49
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苏惜不若

木虫 (著名写手)

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我做的片状不到100nm都能看到很强的峰。关键要把样品量要多,要厚。
还想怎样折磨我?
14楼2012-06-02 00:21:25
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zhulw

铁杆木虫 (著名写手)

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薄膜测试xrd,直接测就可以了,到时候去掉基底的峰就可以了。
make the change
19楼2012-06-02 10:28:01
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flashxu0119

至尊木虫 (著名写手)

这样的薄膜,最好生长在简单物相的衬底上,例如单晶硅,这样更容易分析。免得杂峰太多,不容易分析
21楼2012-06-02 13:35:03
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siym

金虫 (初入文坛)

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你的薄膜一定是结晶状态么?200NM的膜一般XRD就会有结果的,实在不行小角掠入射就可以了。。。。。但薄膜如果是非晶的话,就没有衍射峰了。
23楼2012-06-02 23:33:04
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jluxiaoxi

木虫 (正式写手)

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lchpy: 金币+1, thanks for your information~ 2012-05-31 20:59:30
直接拿着你的衬底和样品片各打一个XRD,相减应该可以的   这个方法自己没有用过  因为我们这有专门的测薄膜的XRD
2楼2012-05-30 18:02:42
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xiejf

专家顾问 (文学泰斗)

麦麦爸爸爱小牛

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lchpy: 金币+1, thanks for your information~ 2012-05-31 20:59:39
直接去测应该可能看到特征衍射峰的~
麦麦爸爸爱小牛
3楼2012-05-30 18:34:43
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wangxf210

禁虫 (小有名气)

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5楼2012-05-31 08:04:13
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wangxf210

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6楼2012-05-31 08:04:39
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wangxf210

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7楼2012-05-31 08:05:30
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zhilihu

木虫 (职业作家)

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这么薄是挺麻烦的,而且测试还挺贵的,测试出来也不一定有峰,看能不能换基片或溅射厚点……
8楼2012-05-31 18:13:38
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Mr-Wang

金虫 (著名写手)

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我觉得你的衬底和样品片各打一个XRD
9楼2012-05-31 19:14:52
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wangxf210

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10楼2012-06-01 07:59:22
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