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wangxf210

禁虫 (小有名气)

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11楼2012-06-01 08:00:34
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jluxiaoxi

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

引用回帖:
5楼: Originally posted by wangxf210 at 2012-05-31 08:04:13
我做了一个,是用环氧做固定基底,出来只有环氧的土包~其他的没有峰...

你是把衬底和样品片都打了一遍吗  只测基地或者样品肯定是个波包啊 我们同学做ZnO薄膜的 也就几十个纳米  用我的这个方法都能测试呢
如果真的没有 也许说明你的材料结晶性很不好 因为你是用的模板法做的啊
12楼2012-06-01 09:16:17
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boyshen

至尊木虫 (正式写手)

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感谢参与,应助指数 +1
200nm普通法就可以了,如果觉得衍射峰很弱可以考虑薄膜法小角掠射
13楼2012-06-01 09:42:49
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苏惜不若

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
我做的片状不到100nm都能看到很强的峰。关键要把样品量要多,要厚。
还想怎样折磨我?
14楼2012-06-02 00:21:25
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wangxf210

禁虫 (小有名气)

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15楼2012-06-02 09:58:12
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wangxf210

禁虫 (小有名气)

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16楼2012-06-02 09:59:09
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wangxf210

禁虫 (小有名气)

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17楼2012-06-02 09:59:50
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pinyun

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

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我也估计打不出来。纳米薄。。
努力可能会失败,但放弃则意味着你根本不可能成功!
18楼2012-06-02 10:06:59
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zhulw

铁杆木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

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薄膜测试xrd,直接测就可以了,到时候去掉基底的峰就可以了。
make the change
19楼2012-06-02 10:28:01
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makuna

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

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Ultra small angle XRD
或者GIXRD
这两种方法都可行

200nm蛮厚了 呵呵
哈哈nano我来了
20楼2012-06-02 11:17:37
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