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yx544710465铜虫 (正式写手)
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[求助]
分辨率高的能谱分析已有1人参与
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| 宽度5nm左右的硅材料，想用线扫得到成分或者含量的信息，现已用场发射透射电镜的EDS尝试过，分辨率不够，求推荐一种测量方法，希望各位大神指点迷津。 |
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gxytju2008
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2楼2015-03-06 15:27:50