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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » XRD 低角度基线强度高的原因
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cathly

金虫 (小有名气)

[求助] XRD 低角度基线强度高的原因

如图，扫描3-10的峰，在3度的基线强度特别高，请问是什么原因，此外在3.2度有个小峰，不知是什么原因引起的，直接做空白也会有，请高人指教。

XRD 低角度基线强度高的原因
IMG_20140730_155351.jpg
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习惯难受，习惯思念，习惯等你，可是却一直没有习惯看不到你
1楼 2014-07-30 16:35:49
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cool2die

木虫 (小有名气)
什么样品？晶片？
2theata角3°，如果是gonio扫描的话，入射角只有1.5°，这时候可能会有反射线，测膜厚就是用这种反射线的
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2楼2014-07-31 11:25:18
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cathly

金虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by cool2die at 2014-07-31 11:25:18
什么样品？晶片？
2theata角3°，如果是gonio扫描的话，入射角只有1.5°，这时候可能会有反射线，测膜厚就是用这种反射线的

我这不管测什么样品都有，直接测空玻璃片也会有，反射线会出现这么高的峰吗，然后在3.2左右的峰是什么原因造成的？
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习惯难受，习惯思念，习惯等你，可是却一直没有习惯看不到你
3楼2014-08-13 10:18:54
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