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wangstudio

新虫 (初入文坛)

[求助] 薄膜分析测试办法已有4人参与

各位:
  
我们最近有一批样品,是圆柱体,直径9mm,高度10mm,基层是高纯硅。基体的外表面有一层污染膜,颜色比较多,有的是蓝色,有的是红色,有的深棕色。现在想找办法分析一下,关键是想知道这层膜究竟是什么元素组成的?如果能知道结构,那就更好了。从理论上分析,污染膜要么是氧化物,要么是氮化物,膜厚不确定,从已有文献来看,可能是几个微米。
  
请教各位高手,有什么办法可以做到?如果是XRD,这样的样品可以直接测吗?因为我们试过将薄膜刮去,硬度太大,没法操作。在西安,有没有可以做的地方,推荐一下。
  
谢谢!
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盒子

金虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
可以试一下XRD,XPS,最后考虑TEM

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差之毫厘,谬以千里。
4楼2014-07-01 15:33:18
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普通回帖

透射电镜制样

新虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
xrd可能不大好做,可以试一下扫描或者透射
2楼2014-06-30 22:16:12
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jialujian

新虫 (初入文坛)

硅的清洗有很多方法,你可以试一下传统的硅片清洗方法。能有效的去除表面的氧化膜和各种污染物。。。
3楼2014-07-01 09:34:47
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soullioner

新虫 (初入文坛)

庆华可以做XRD
5楼2014-07-01 19:10:28
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wangstudio

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
3楼: Originally posted by jialujian at 2014-07-01 09:34:47
硅的清洗有很多方法,你可以试一下传统的硅片清洗方法。能有效的去除表面的氧化膜和各种污染物。。。

这层膜与基体结合非常牢固,我已经试过硝酸和氢氟酸的清洗了,有时可以洗掉,有时不行。我们的客户要求,必须没有这些花花绿绿的东西。清洗只能是被动地解决问题,从根源上讲,还是在前期就避免生成。

非常感谢您的回复。
6楼2014-07-02 20:14:10
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wangstudio

新虫 (初入文坛)

送红花一朵
引用回帖:
4楼: Originally posted by 盒子 at 2014-07-01 15:33:18
可以试一下XRD,XPS,最后考虑TEM

XRD怎么做呢?我了解到的情况是,做XRD时,样品需要为平板状或者粉末状。这个圆柱体可以吗?没有什么特殊制样要求吗?

其实我上周已经做了一次SEM+EDS,图谱显示只有Si、O、C三种元素。但因为EDS对于小于11号的元素检测准确不好,所以我想通过别的方法确认一下。

不知道您怎么看?
7楼2014-07-02 20:18:15
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盒子

金虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

XRD可以做的,双面胶粘在载玻片上,或者直接找相关实验的老师;EDS只能进行元素分析,XPS可以价态分析,木虫里有资源很多,你检索下。
差之毫厘,谬以千里。
8楼2014-07-03 13:17:00
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甲波

新虫 (小有名气)

XRD可以做得,我学生实验就做过类似的

[ 发自小木虫客户端 ]
9楼2014-07-04 07:38:58
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wu1008

金虫 (著名写手)

我们可以测
10楼2014-09-21 21:23:16
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