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[求助]
求各位高人相助，关于一篇文献中电镜制样的问题
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一篇英文文献中的一小段 When an analysis of precipitates and oxides in a matrix is the main concern, a specific method for the TEM sample preparation must be applied as most of them have hard and non-conductive phases. A focused ion beam device (FIB) has been used to solve this problem。 有点看不懂，哪位大侠可以帮忙解释下吗？为什么FIB能解决这个问题？ |
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