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leborn88

新虫 (初入文坛)

[求助] 求各位高人相助,关于一篇文献中电镜制样的问题

一篇英文文献中的一小段
When an analysis of precipitates and oxides in a matrix is the
main concern, a specific method for the TEM sample preparation
must be applied as most of them have hard and non-conductive
phases. A focused ion beam device (FIB) has been used to solve
this problem。
有点看不懂,哪位大侠可以帮忙解释下吗?为什么FIB能解决这个问题?
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