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wwgaochao

铜虫 (正式写手)

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[求助] 求问如何用FTIR测玻璃基底上的薄膜

在玻璃基底上制备了一层几百纳米厚的薄膜，想用红外测一下其中的Si-O峰。想知道具体怎么测？之前只测过块体硅的傅里叶红外，用相同的方法测载玻片基底却测不出Si-O键峰，而测长了膜的载玻片时，用MIR-XPM测出非常多的杂峰，基本无法识别。求问测这种薄膜具体该怎么测？用什么频率的光源比较好？谢谢

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基片薄膜的表征

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1楼 2011-07-15 20:05:49

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wwgaochao

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引用回帖:

Originally posted by pinguo at 2011-07-18 15:10:02:
不太明白你的意思。你是想测你的薄膜中的Si-O键呢？还是想测你的玻璃基体中的Si-O键？如果是前者，不建议使用玻璃基体，因为玻璃中的Si-O很强，绝对会覆盖你的薄膜中的Si-O键的峰。尤其是透射的话。如果实在想测的 ...

谢谢，我想测的是薄膜中的Si-O键，因为薄膜是在玻璃基体上的，所以先测了下玻璃基体的光谱，但是基体谱线中并没有Si-O吸收峰；然后测带有薄膜的玻璃基体，出现了很多杂峰。因为我们的红外之前只测过硅，所以做的都是透射和吸收谱，确实没有测过反射谱。谢谢您的解答。