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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 分析 » 求问如何用FTIR测玻璃基底上的薄膜
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wwgaochao

铜虫 (正式写手)

[求助] 求问如何用FTIR测玻璃基底上的薄膜

在玻璃基底上制备了一层几百纳米厚的薄膜，想用红外测一下其中的Si-O峰。想知道具体怎么测？之前只测过块体硅的傅里叶红外，用相同的方法测载玻片基底却测不出Si-O键峰，而测长了膜的载玻片时，用MIR-XPM测出非常多的杂峰，基本无法识别。求问测这种薄膜具体该怎么测？用什么频率的光源比较好？谢谢
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1楼 2011-07-15 20:05:49
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jing.ren

木虫 (正式写手)

骚客

【答案】应助回帖

wwgaochao(金币+3): 谢谢~ 2011-07-17 12:07:41
用FTIR测透过肯定是行不通的，因为信号里面会有玻璃基板的信号，一般的载玻片主要成分是SiO2，信号太强会掩盖你测试薄膜的信号。一种方法是测试反射率，这样信号主要来自于薄膜表面。
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JR
4楼2011-07-17 09:29:09
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wxdong006

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

wwgaochao(金币+3): 谢谢，没有测过反射模式，能说下具体的测试方法吗？ 2011-07-17 12:06:55
用ATP模式试试，反射模式，
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专业提供DSC，红外光谱，GC-MS，能量色散X射线荧光光谱仪等测试，联系方式：wxdong006@163.com
2楼2011-07-17 07:51:41
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wingcat

荣誉版主 (知名作家)

【答案】应助回帖

wwgaochao(金币+3): atr附件怎么用呢？谢谢~ 2011-07-17 12:07:22
楼上的，应该是atr附件吧。
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3楼2011-07-17 08:43:37
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wwgaochao

铜虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by jing.ren at 2011-07-17 09:29:09:
用FTIR测透过肯定是行不通的，因为信号里面会有玻璃基板的信号，一般的载玻片主要成分是SiO2，信号太强会掩盖你测试薄膜的信号。一种方法是测试反射率，这样信号主要来自于薄膜表面。

但是测的玻璃基板中并没有Si-O的信号，反而是测带薄膜的基板时可能是由薄膜引入了很多很多的杂峰。另外请问下反射的测试流程，之前没有测过反射。谢谢~
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5楼2011-07-17 12:09:30
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