| 查看: 2604 | 回复: 6 | ||||
[求助]
求问如何用FTIR测玻璃基底上的薄膜
|
| 在玻璃基底上制备了一层几百纳米厚的薄膜，想用红外测一下其中的Si-O峰。想知道具体怎么测？之前只测过块体硅的傅里叶红外，用相同的方法测载玻片基底却测不出Si-O键峰，而测长了膜的载玻片时，用MIR-XPM测出非常多的杂峰，基本无法识别。求问测这种薄膜具体该怎么测？用什么频率的光源比较好？谢谢 |
回复此楼» 收录本帖的淘帖专辑推荐
 基片薄膜的表征 | qqz 10 |
» 猜你喜欢
307求调剂
已经有4人回复
-
317一志愿华南理工电气工程求调剂
已经有8人回复
-
272求调剂
已经有3人回复
-
化工专硕348，一志愿985求调剂
已经有6人回复
-
292求调剂
已经有3人回复
-
304求调剂
已经有4人回复
-
290求调剂
已经有6人回复
-
295求调剂
已经有5人回复
-
26申博
已经有4人回复
-
材料学调剂
已经有5人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 求高人指点《数字摄影测量学》这本书应该怎么学？
已经有7人回复
- 测试POSCAR的脚本不运行
已经有10人回复
- 如何制备很薄的很平整薄膜(1-30微米)，除旋涂以外，具体请教见正文 ：） TKX
已经有14人回复
- 请教个问题，我烘干的粉末，想测他的结晶温度，不知道用DSC怎么测
已经有7人回复
- 求助如何测量材料成份？哪里可以做？
已经有15人回复
- 请教FT-IR测试硅薄膜数据中基线处理的问题
已经有6人回复
- 制备PLLA薄膜（40μm）左右 用于DSC, FTIR, WAXD等测试
已经有15人回复
- ☆☆☆求助帖：关于薄膜的红外光谱检测（FTIR）问题。传说标题要长☆☆☆☆☆☆☆
已经有6人回复
- 【讨论】FTIR的检测限？
已经有6人回复
- 求助岛津傅里叶变换红外光谱仪FTIR-8400S型 的使用方法
已经有7人回复
2楼2011-07-17 07:51:41
3楼2011-07-17 08:43:37
jing.ren
木虫 (正式写手)
骚客
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 4681.9
- 帖子: 833
- 在线: 359.9小时
- 虫号: 1113128
- 注册: 2010-10-03
- 性别: GG
- 专业: 无机非金属类光电信息与功
4楼2011-07-17 09:29:09
5楼2011-07-17 12:09:30
pinguo
铁杆木虫 (著名写手)
- 应助: 108 (高中生)
- 贵宾: 0.067
- 金币: 7423.8
- 红花: 20
- 帖子: 1982
- 在线: 316.4小时
- 虫号: 352302
- 注册: 2007-04-22
- 专业: 光谱分析
【答案】应助回帖
wwgaochao(金币+5): 谢谢，要测的是薄膜上的Si-O键。之前没有测过薄膜，所以不太懂 2011-07-19 08:39:59
wwgaochao(金币+6): 2011-08-31 20:15:09
wwgaochao(金币+6): 2011-08-31 20:15:09
| 不太明白你的意思。你是想测你的薄膜中的Si-O键呢？还是想测你的玻璃基体中的Si-O键？如果是前者，不建议使用玻璃基体，因为玻璃中的Si-O很强，绝对会覆盖你的薄膜中的Si-O键的峰。尤其是透射的话。如果实在想测的话，那就测量一个玻璃基体的红外，然后再测量一个覆盖薄膜的样品的红外，然后二者相除或者相减。取决于你测的是吸收还是透射光谱。不过， 最好还是使用反射。这个是红外光谱仪中的附件，不知道你们的仪器上面配备了没有。 |
6楼2011-07-18 15:10:02
7楼2011-07-19 08:37:57
