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求问如何用FTIR测玻璃基底上的薄膜
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| 在玻璃基底上制备了一层几百纳米厚的薄膜，想用红外测一下其中的Si-O峰。想知道具体怎么测？之前只测过块体硅的傅里叶红外，用相同的方法测载玻片基底却测不出Si-O键峰，而测长了膜的载玻片时，用MIR-XPM测出非常多的杂峰，基本无法识别。求问测这种薄膜具体该怎么测？用什么频率的光源比较好？谢谢 |
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 基片薄膜的表征 | qqz 10 |
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3楼2011-07-17 08:43:37
2楼2011-07-17 07:51:41
jing.ren
木虫 (正式写手)
骚客
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