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求问如何用FTIR测玻璃基底上的薄膜
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| 在玻璃基底上制备了一层几百纳米厚的薄膜，想用红外测一下其中的Si-O峰。想知道具体怎么测？之前只测过块体硅的傅里叶红外，用相同的方法测载玻片基底却测不出Si-O键峰，而测长了膜的载玻片时，用MIR-XPM测出非常多的杂峰，基本无法识别。求问测这种薄膜具体该怎么测？用什么频率的光源比较好？谢谢 |
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 基片薄膜的表征 | qqz 10 |
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2楼2011-07-17 07:51:41
3楼2011-07-17 08:43:37
jing.ren
木虫 (正式写手)
骚客
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4楼2011-07-17 09:29:09
5楼2011-07-17 12:09:30
pinguo
铁杆木虫 (著名写手)
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【答案】应助回帖
wwgaochao(金币+5): 谢谢，要测的是薄膜上的Si-O键。之前没有测过薄膜，所以不太懂 2011-07-19 08:39:59
wwgaochao(金币+6): 2011-08-31 20:15:09
wwgaochao(金币+6): 2011-08-31 20:15:09
| 不太明白你的意思。你是想测你的薄膜中的Si-O键呢？还是想测你的玻璃基体中的Si-O键？如果是前者，不建议使用玻璃基体，因为玻璃中的Si-O很强，绝对会覆盖你的薄膜中的Si-O键的峰。尤其是透射的话。如果实在想测的话，那就测量一个玻璃基体的红外，然后再测量一个覆盖薄膜的样品的红外，然后二者相除或者相减。取决于你测的是吸收还是透射光谱。不过， 最好还是使用反射。这个是红外光谱仪中的附件，不知道你们的仪器上面配备了没有。 |
6楼2011-07-18 15:10:02
7楼2011-07-19 08:37:57