图1是烧结粉末的XRD图和解的单晶结构导出XRD的比较图。
虽然二者谱图的峰位相同，但总体来讲有些峰的峰强不一致。（JSSC上很多也都这样的）
对此 我加了一句抄别人的话
Note that the intensity difference for some diffraction lines between the two patterns is caused by preferred orientation of the powder sample during collection of the experimental XRD data.
审稿人要我解释一下这句！
另外还要求
1) Instead of extended XRPD pattern shown on Fig.1, it is better to show the smaller 2Theta range, and make the conclusions in the text about powder sample purity and the axis of preferred orientation.
小角度SXRD可以得出纯度吗？或者WXRD可以得出纯度吗？
axis of preferred orientation也可以通过SXRD得出吗？
请知情者救助一下！！！
试问 审稿意见中的“it is better to show the smaller 2Theta range”
是不是指的是较小的一个2theta范围，比如强峰较多的10-30等等
而不是小角度衍射的“small XRD”?
有这样猜测的原因是，同类型的文章从未发现有做SXRD的！我们做的是固相烧结的无机硼酸盐化合物
请问会有这种可能吗？
试问 审稿意见中的“it is better to show the smaller 2Theta range”
是不是指的是较小的一个2theta范围，比如强峰较多的10-30等等
而不是小角度衍射的“small XRD”?
有这样猜测的原因是，同类型的文章从未发现有做SXRD的！我们做的是固相烧结的无机硼酸盐化合物
请问会有这种可能吗？
另外还要求
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