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CHN1314

金虫 (正式写手)

[求助] (有好答案的话追加金币)磁控溅射制备的氧化铝薄膜,怎样确定铝和氧的原子比已有3人参与

在单晶硅片上用磁控溅射制备了氧化铝薄膜,想知道薄膜中铝和氧的原子比。本来要用扫描电镜打能谱测试的,结果听人家说这样测出的氧含量是不准的,那么问题来了,怎么测试才比较准呢?PS:由于是磁控溅射低温制备的薄膜,所以很有可能是非晶态的。
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CHN1314

金虫 (正式写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by zjlenny at 2015-04-19 11:56:50
要么用化学滴定法

这是薄膜啊   固态的
4楼2015-04-19 15:44:42
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dwysd

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
首先要考虑为什么确定Al/O比,要求的精度是多少?
2楼2015-04-19 11:50:23
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zjlenny

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
要么用化学滴定法
3楼2015-04-19 11:56:50
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CHN1314

金虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by dwysd at 2015-04-19 11:50:23
首先要考虑为什么确定Al/O比,要求的精度是多少?

因为制备的薄膜希望尽可能是符合化学计量比的膜,这样会满足折射率和透过率的要求。精度不是要求特别高   但也不能差太多
5楼2015-04-19 15:46:26
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