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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 测试表征 » XPS表征后的分析
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pvogue

铁虫 (正式写手)

[求助] XPS表征后的分析 已有2人参与

本人制备了分子筛负载氧化铁的材料，由于铁含量较低，XPS出的铁的峰比较弱，请问有没有什么方法能够改善一下这个峰强度，也就是说在XPS测试过程中都有哪些因素会影响到峰？  谢谢！
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1楼 2014-09-03 22:56:18
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jiyeming

至尊木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

★ ★ ★
pvogue: 金币+2, ★有帮助 2014-09-11 21:49:28
pvogue: 金币+1, ★有帮助 2014-09-25 16:38:07
峰的强度与制备出来材料中的元素含量有关。XPS可以分析出元素的质量分数，如果分析出来的质量分数跟你配料接近的话说明峰就是这样。
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2楼2014-09-11 13:26:00
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ljzhuge

铁虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
pvogue: 金币+5, ★★★很有帮助 2014-09-25 16:37:10
采谱时，多扫几次，可加大通能，不过增加通能后会降低分辨率
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3楼2014-09-25 12:19:10
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pvogue

铁虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by ljzhuge at 2014-09-25 12:19:10
采谱时，多扫几次，可加大通能，不过增加通能后会降低分辨率

那我想请教一下，降低分辨率对出峰没有影响吧  我最后只要峰好一点就行
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4楼2014-09-25 16:37:46
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pvogue

铁虫 (正式写手)
引用回帖:
2楼: Originally posted by jiyeming at 2014-09-11 13:26:00
峰的强度与制备出来材料中的元素含量有关。XPS可以分析出元素的质量分数，如果分析出来的质量分数跟你配料接近的话说明峰就是这样。

谢谢  就是质量分数不匹配
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5楼2014-09-25 16:38:46
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