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掺杂半导体薄膜的XRD测试
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请问在蓝宝石上长氧化物掺杂薄膜后，测XRD后处理数据时，因为掺杂量的不同，氧化物的2Theta角度会有不同程度上的偏移，需要将蓝宝石的峰位对齐后再比较他们的偏移角度吗？还是说直接作图比较？ |
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