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羽翼深蓝

木虫 (小有名气)

[求助] 掺杂半导体薄膜的XRD测试

请问在蓝宝石上长氧化物掺杂薄膜后，测XRD后处理数据时，因为掺杂量的不同，氧化物的2Theta角度会有不同程度上的偏移，需要将蓝宝石的峰位对齐后再比较他们的偏移角度吗？还是说直接作图比较？
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1楼2013-05-20 08:32:37
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wubowubowubo

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
羽翼深蓝: 金币+2, ★★★很有帮助 2013-05-20 19:17:18
羽翼深蓝: 金币+1, ★有帮助 2013-05-21 21:43:51
个人觉得把基片峰先对齐。基片峰不齐是你的机子的问题。
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2楼2013-05-20 09:54:44
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qwcmos

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与，应助指数 +1
羽翼深蓝: 金币+1, ★有帮助 2013-05-20 19:16:36
羽翼深蓝: 金币+1, ★有帮助 2013-05-21 21:43:57
可以尝试一下把基体蓝宝石的峰去掉，单独分析薄膜的XRD。
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3楼2013-05-20 10:00:04
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鹰羽龙

木虫 (著名写手)
XRD是哪个型号的？我也纠结，移动幅度太大，但是衬底是玻璃，没办法对齐
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4楼2013-05-20 19:42:26
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