我用XRD测量c方向生长的单晶薄膜，可以看到衬底（001）（002）（003）峰和薄膜样品的（001）（002）（003）峰，分别用布拉格公式计算晶格常数c，发现每个峰对应的晶格c不完全相同，比如对衬底STO的晶格大小对应（001）（002）（003）峰分别为3.911，3.909，3.908 Å ，薄膜的晶格差别就更大些，大约在0.1Å左右。请问这样的误差一般怎么处理？是取平均算还是取最高的峰算？还有STO计算的晶格大约3.908Å总是比卡片上3.905大一些，这是测量误差导致的还是晶体和粉末的区别导致的？
谢谢！
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