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求助！关于使用FIB加工后试样截面的能谱分析问题
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小弟拿不锈钢在硫化氢/二氧化碳环境下做了一个应力腐蚀实验，试样表面有一层硫化物腐蚀产物形成，然后我用FIB聚焦离子束显微镜在受拉面切了一个槽观察腐蚀截面，结果很意外的在远离腐蚀产物层的金属基体上打能谱的时候，发现在截面上有含量很高的S元素存在，做元素的面分布也是同样的结果。这就很不合常理，理论上在金属基体里是应该不存在S的…… 小弟想请教一下各位大牛，造成这一结果的原因是什么？是因为在切的过程中把表面的腐蚀产物带下去然后挂在切面上了吗？小弟刚接触FIB显微镜，对此不是很明白，望各位大牛指教一二，在此我先多谢各位了～  |
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