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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 请教FT-IR测试硅薄膜数据中基线处理的问题
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qinweiib

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1楼 2012-02-29 22:32:24
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abooo

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
dengwei_19: 回帖置顶 2012-03-01 16:47:33
在哪上面做的薄膜?先扫一个基底的,扣除后再扫si薄膜的.
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qinweiib
活着就是幸福~~!
2楼2012-03-01 15:09:40
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qinweiib

禁虫 (小有名气)
送鲜花一朵
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3楼2012-03-01 19:44:53
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abooo

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
qinweiib(金币+15): ★★★★★最佳答案 2012-03-02 10:42:46
引用回帖:
3楼: Originally posted by qinweiib at 2012-03-01 19:44:53:
谢谢，谢谢，还想请问一下：在扣除衬底信号后虽然直线基线不会穿过谱线，但基线看上去并不是一条直线，而是一条曲线，请问对于基线应该怎么处理？也可以推荐一些帖子，谢谢！

红外软件有调整基线的按钮，不过我不建议过度追求平、直，那样其实是失真的数据。
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活着就是幸福~~!
4楼2012-03-01 21:51:05
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qinweiib

禁虫 (小有名气)
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5楼2012-03-02 00:05:04
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abooo

木虫 (著名写手)
引用回帖:
5楼: Originally posted by qinweiib at 2012-03-02 00:05:04:
我们这个omnic的软件还真没有，请教一下硅薄膜的基线处理有什么可以遵循的原则吗？

这个说不上，数据处理不是关键阿，关键是要真实反映样品。我以前也是老想把它弄平，弄直，但是这样下来失真的利害。
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活着就是幸福~~!
6楼2012-03-02 10:08:23
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qinweiib

禁虫 (小有名气)
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7楼2012-03-02 10:42:35
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