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lzusxl木虫 (文坛精英)
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求助TEM测试晶体晶格偏大..
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如题 我在测试样品的各个层间距的时候发现 每个相对的XRD得出的JCPDS卡片的各个面的数值 明显的HRTEM量出来的要比标准卡片的大好多 比如stand card 0.336nm 我的是 0.36nm了 电子衍射反推晶格方向又在0.35nm... 请问这个会不会真的有大的问题了.. XRD数据也有明显的angle左移.. 谢谢呢！ |
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 EDX及透射扫描分析 |
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