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lzusxl木虫 (文坛精英)
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[求助]
求助TEM测试晶体晶格偏大..
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如题 我在测试样品的各个层间距的时候发现 每个相对的XRD得出的JCPDS卡片的各个面的数值 明显的HRTEM量出来的要比标准卡片的大好多 比如stand card 0.336nm 我的是 0.36nm了 电子衍射反推晶格方向又在0.35nm... 请问这个会不会真的有大的问题了.. XRD数据也有明显的angle左移.. 谢谢呢！ |
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 EDX及透射扫描分析 |
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【答案】应助回帖
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感谢参与，应助指数 +1
lzusxl(金币+5): ★★★很有帮助 谢谢呢 我再找他们测试员问问 TEM那个数值偏大我估计是由于晶格斜着... 2012-01-03 10:54:07
xjajx(金币+1): 2012-01-03 19:45:37
感谢参与，应助指数 +1
lzusxl(金币+5): ★★★很有帮助 谢谢呢 我再找他们测试员问问 TEM那个数值偏大我估计是由于晶格斜着... 2012-01-03 10:54:07
xjajx(金币+1): 2012-01-03 19:45:37
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如果xrd和TEM同时都支持晶格变大，那么有可能是真的 不过为保险起见，可以对XRD和TEM做一下校正 XRD校正很容易，找个标样测一下，和标准卡片对一下就知道了 TEM可以用在样品上镀几个nm的金拍一个衍射环做内标。不排除做电镜的人在拍照片的时候没有用缺省的物镜电流。如果偏离缺省的物镜电流太远，标尺误差就会很大，不准。 |
6楼2012-01-03 10:42:53
decahedron
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lzusxl2楼2012-01-03 10:18:11
lzusxl
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3楼2012-01-03 10:20:34
decahedron
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4楼2012-01-03 10:34:21
