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【求助】利用XRD计算晶粒大小中关与半高宽的问题
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各位虫友,利用XRD计算晶粒大小时,所采用的半高宽数值需要减去仪器的半高宽吗? 按道理来说,应该是扫描样品得到的半高宽减去仪器半高宽所得的结果,才能用来计算晶粒大小。平时大家是怎么做的呢? 另:仪器半高宽怎么测定呢,一般用什么标准物质呢?是否针对不同样品,需要使用不同的标准物呢?标准物如何处理呢? [ Last edited by zhangzs8507 on 2010-12-20 at 16:58 ] |
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zhangzs8507(金币+10):介绍的很详细,谢谢指点 2010-12-21 13:46:28
zhangzs8507(金币+17): 2011-01-14 09:05:55
zhangzs8507(金币+17): 2011-01-14 09:05:55
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当晶粒大小达到微米级时,不存在因晶粒大小而引起的衍射线(峰)变宽问题,而仅由Ka双线增宽和仪器增宽引起。选择标样时一般要求晶粒大小在3~5微米范围,应选择无其它谱线干扰的衍射线作为分析线,其衍射角和衍射强度尽量与试样分析线的接近。将标样衍射线作Ka双线增宽校正后,所得的半宽度即为仪器本身所带来的仪器增宽度。 所谓Ka双线增宽,是指对Ka辐射而言,因其是由Ka1和Ka2组成的,由于波长不同,与Ka1相应的Bragg角和与Ka2相应的Bragg角不同,出现两个衍射峰,它们之间存在一定间隔,但在低衍射角时二者重叠分不开,故使衍射线变宽,称为Ka双线增宽度。扣除Ka双线增宽度即剥除因Ka2衍射引起的增宽。 X射线衍射线的增宽度,必须扣除了Ka双线增宽度、仪器增宽度等之后,才是衍射线的本征增宽度。 本征增宽度可用半宽度表示,定义为强度分布曲线最大峰值高度一半处的宽度FWHM(这种宽度是常用的),亦可定义为积分宽度(用强度分布曲线下的面积除以最大峰值高度表示)。 对于Scherrer常数K,它与晶体形状(球状、针状、棒状等)反射晶面的衍射指数以及半宽度和粒径D的定义有关。当半宽度用FWHM、D用晶面法线方向的晶粒平均尺度定义时,取K值为0.89。 |
6楼2010-12-21 13:29:46







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