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171735082

金虫 (初入文坛)

[交流] 【求助】请教飞行时间质谱测定纳米颗粒的问题

看到有些文献上用飞行时间质谱(TOF)测定纳米颗粒的幻数,我也需要用TOF测定纳米颗粒,一个朋友那有TOF,但他说只能测液体的样品,他们只用来测定有机物。我看有篇文献中采用Bruker Reflex III-TTOF masss pectrometer测定纳米颗粒,查了一下这个型号,介绍也是主要用于测定有机物和生物大分子,请教各位虫友们,测定固体样品对TOF是不是有特殊的要求。
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deler

铁杆木虫 (小有名气)

是测magic size 的cluster吧, 一般是用激光来打样品的. 然后测产生的正或负离子.
7楼2010-10-28 08:29:33
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匿名

用户注销 (著名写手)

总版主

171735082(金币+1): 2010-10-26 09:43:45
本帖仅楼主可见
2楼2010-08-26 20:50:07
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171735082

金虫 (初入文坛)


baiyal2000(金币+1):多谢交流! 2010-08-27 10:26:30
引用回帖:
Originally posted by baiyal2000 at 2010-08-26 20:50:07:
我是来学习的,请教下什么叫“纳米颗粒的幻数”

准确的说幻数是正对团簇的,也就是特别稳定的团簇所含有的原子数。
3楼2010-08-27 08:45:45
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goldensea7

金虫 (小有名气)

171735082(金币+1): 2010-10-26 09:43:50
看来这个问题比较难啊,还是自己想办法解决吧
4楼2010-10-25 16:05:19
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