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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】请教飞行时间质谱测定纳米颗粒的问题
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171735082

金虫 (初入文坛)

[交流] 【求助】请教飞行时间质谱测定纳米颗粒的问题

看到有些文献上用飞行时间质谱（TOF）测定纳米颗粒的幻数，我也需要用TOF测定纳米颗粒，一个朋友那有TOF，但他说只能测液体的样品，他们只用来测定有机物。我看有篇文献中采用Bruker Reflex III-TTOF masss pectrometer测定纳米颗粒，查了一下这个型号，介绍也是主要用于测定有机物和生物大分子，请教各位虫友们，测定固体样品对TOF是不是有特殊的要求。
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1楼 2010-08-26 16:52:30
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goldensea7

金虫 (小有名气)
171735082(金币+1): 2010-10-26 09:43:50
看来这个问题比较难啊，还是自己想办法解决吧
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4楼2010-10-25 16:05:19
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匿名

用户注销 (著名写手)

总版主
171735082(金币+1): 2010-10-26 09:43:45
本帖仅楼主可见
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2楼2010-08-26 20:50:07
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171735082

金虫 (初入文坛)
★
baiyal2000(金币+1):多谢交流！ 2010-08-27 10:26:30
引用回帖:
Originally posted by baiyal2000 at 2010-08-26 20:50:07:
我是来学习的，请教下什么叫“纳米颗粒的幻数”

准确的说幻数是正对团簇的，也就是特别稳定的团簇所含有的原子数。
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3楼2010-08-27 08:45:45
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catzzzzz

禁虫 (小有名气)
171735082(金币+1): 2010-10-26 09:42:44
本帖内容被屏蔽
5楼2010-10-25 17:20:08
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