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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】请教飞行时间质谱测定纳米颗粒的问题
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171735082

金虫 (初入文坛)

[交流] 【求助】请教飞行时间质谱测定纳米颗粒的问题

看到有些文献上用飞行时间质谱（TOF）测定纳米颗粒的幻数，我也需要用TOF测定纳米颗粒，一个朋友那有TOF，但他说只能测液体的样品，他们只用来测定有机物。我看有篇文献中采用Bruker Reflex III-TTOF masss pectrometer测定纳米颗粒，查了一下这个型号，介绍也是主要用于测定有机物和生物大分子，请教各位虫友们，测定固体样品对TOF是不是有特殊的要求。
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1楼 2010-08-26 16:52:30
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goldensea7

金虫 (小有名气)
171735082(金币+1): 2010-10-26 09:43:50
看来这个问题比较难啊，还是自己想办法解决吧
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4楼2010-10-25 16:05:19
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