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hsx397529552木虫 (正式写手)
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[交流]
XPS元素峰位由于荷电效应引起的偏移量
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各位虫友： 大家好，我通过阳极氧化制备了镁的阳极氧化膜MgO，通过溅射Ar离子获取深度信息。发现镁元素与氧元素在前2min溅射获得的峰位与标准谱图一致，3到6min分别向高能端移动了0.65和0.3eV，请问这个现象正常吗？ 由于阳极氧化膜导电性的下降，势必造成峰位向高能端移动，但是两个元素峰位的移动量应当是相等的嘛？还是没有必然联系，请大神指导，谢谢啦 |
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3楼2016-08-15 23:49:56
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hsx397529552: 金币+5, 谢谢您专业的回答 2016-08-23 21:44:58
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
hsx397529552: 金币+5, 谢谢您专业的回答 2016-08-23 21:44:58
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0.35 eV的差别应该是由样品本身的物质造成的变化的可能性比较大。不知道你用的什么做的calibration，这点还是很重要的。 如果是MgO/Mg这种样品有charging的话，那应该是最开始测试的时候是charging最严重的时候，因为不导电的MgO层最厚，所以charging的可能性比较小 建议你选择一个比较好的reference peak做了calibration再做比较，这样你比较不同样品的peak的binding energy才有意义 我猜你的O 1s最开始的时候应该会有2，3个峰吧，应该先确定了哪个峰对应的是哪个物质，这样才能进行比较，如果连峰对应的都是不同物质，那比较还有意义？最开始的样品很有可能有一些其他的物质，contamination，做合成时候残留的东西，这个可以对应着C 1s看 |
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hsx39752955210楼2016-08-21 04:13:53
hsx397529552
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14楼2016-08-23 22:13:14
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2楼2016-08-15 07:36:34
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4楼2016-08-16 23:03:41
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5楼2016-08-17 06:20:18
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首先谢谢您的回答！xps溅射造成的元素峰位偏移是由于荷电效应，并不是您说的氧化还原，整个过程压根没有化学反应！！！。您说的意思我的理解是，比如金属变成阳离子的偏移，跟我说的并不是一回事。我的问题是，荷电效应造成的镁偏移量是否应该等于氧的偏移量。原理上讲应该是，但实际我测的结果不同 发自小木虫IOS客户端 |
6楼2016-08-17 19:21:03
7楼2016-08-19 14:41:53
hsx397529552
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8楼2016-08-20 14:04:16
| 祝福 |
9楼2016-08-20 14:37:15