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木虫 (正式写手)

[求助] 射线探测深度问题? 已有1人参与

红外光谱(反射),紫外可见(反射),xps,xrd,eds,荧光等光谱,他们对固体样品的探测深度是多少?

无机样品
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geqingqin

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

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感谢参与,应助指数 +1
archbishop: 金币+2, 感谢参与。 2015-03-29 15:49:48
wwyww: 金币+10, ★★★很有帮助, 讲的非常有道理 2015-03-29 20:08:03
对于这些技术,你要看最终探测的是什么信息? 如果是xps,AES,REELS等技术,探测的是最后出射的电子信息,电子在材料内部逃逸深度在几个nm的尺度,因此谢谢技术探测深度在几个nm到10个nm左右。而EDS,XRD,XRF等技术探测的是出射X光信息,在材料表面逃逸深度达到微米尺度,因此探测深度在几个微米甚至更深。。。而红外,紫外等光子能量小的多,因此应该介于两者之间

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
我为回答问题而来
2楼2015-03-29 10:25:48
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