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guwei2892091

金虫 (小有名气)

[求助] 请教XPS探测深度已有2人参与

XPS用的是软射线,用来检测物质浅层表面,据说只可以检测几个纳米
想问,有没有什么文献讲过,XPS能检测多深,多少纳米厚的时候XPS信号就检测不到了?
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tianya8i

至尊木虫 (文坛精英)

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guwei2892091: 金币+1, 有帮助 2012-03-23 20:55:52
4-5nm做多  如果需要深的话 可利用溅射技术剥层
2楼2012-03-23 07:57:33
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鹰羽龙

木虫 (著名写手)

7楼2012-03-23 21:31:10
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普通回帖

xiejf

专家顾问 (文学泰斗)

麦麦爸爸爱小牛

【答案】应助回帖


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guwei2892091: 金币+1, 有帮助 2012-03-23 20:56:01
几个纳米,不过辅以氩离子刻蚀就可以做深度剖析了。
麦麦爸爸爱小牛
3楼2012-03-23 10:49:18
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鹰羽龙

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
guwei2892091: 金币+2, ★★★很有帮助 2012-03-23 20:56:12
受制于电子逃逸深度,一般只有2纳米左右

» 本帖已获得的红花(最新10朵)

4楼2012-03-23 11:31:28
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guwei2892091

金虫 (小有名气)

送鲜花一朵
引用回帖:
4楼: Originally posted by 鹰羽龙 at 2012-03-23 11:31:28:
受制于电子逃逸深度,一般只有2纳米左右

有相关的文献吗?
5楼2012-03-23 20:56:31
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鹰羽龙

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★
guwei2892091: 金币+2, ★★★很有帮助 2012-03-24 09:57:23
引用回帖:
5楼: Originally posted by guwei2892091 at 2012-03-23 20:56:31:
有相关的文献吗?

Surface Analysis –The Principal Techniques 2nd Edition去网上搜电子版的。XPS检测逃逸出表面的电子,逃逸过程中不能有太大的能量损失,没有损失的这段距离叫IMFP电子平均自由程,和X光能量有一个关系,镁靶和铝靶的X光能量在1000多eV,对应的IMFP大约2纳米左右(大概值,跟很多因素有关系),UPS的能量在几十eV,IMFP更低,所以UPS更surface sensitive一些
6楼2012-03-23 21:30:45
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zqs1211

禁虫 (正式写手)

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8楼2012-03-25 09:14:48
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super_zu

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

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7-10nm。zzzzzzvvvvvvvbhhhgffdddfghbbbbggfdds不算简单回复了吧
9楼2012-05-01 15:15:31
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guwei2892091

金虫 (小有名气)

引用回帖:
9楼: Originally posted by super_zu at 2012-05-01 15:15:31:
7-10nm。zzzzzzvvvvvvvbhhhgffdddfghbbbbggfdds不算简单回复了吧

谢谢
10楼2012-05-06 15:06:27
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