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射线探测深度问题？ 已有1人参与
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红外光谱（反射），紫外可见（反射），xps，xrd，eds，荧光等光谱，他们对固体样品的探测深度是多少？ 无机样品 |
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【答案】应助回帖
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感谢参与，应助指数 +1
archbishop: 金币+2, 感谢参与。 2015-03-29 15:49:48
wwyww: 金币+10, ★★★很有帮助, 讲的非常有道理 2015-03-29 20:08:03
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wwyww: 金币+10, ★★★很有帮助, 讲的非常有道理 2015-03-29 20:08:03
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对于这些技术，你要看最终探测的是什么信息？ 如果是xps,AES，REELS等技术，探测的是最后出射的电子信息，电子在材料内部逃逸深度在几个nm的尺度，因此谢谢技术探测深度在几个nm到10个nm左右。而EDS,XRD,XRF等技术探测的是出射X光信息，在材料表面逃逸深度达到微米尺度，因此探测深度在几个微米甚至更深。。。而红外，紫外等光子能量小的多，因此应该介于两者之间 [ 发自手机版 http://muchong.com/3g ] |
2楼2015-03-29 10:25:48
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