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glorylin

金虫 (小有名气)

[求助] 在玻璃或者ITO玻璃上或者硅片上有层SiO2薄膜,用AFM测厚度该怎么制样。 已有11人参与

RT,在玻璃或者ITO玻璃上或者硅片上长了一层10nm 左右的SiO2薄膜,打算用AFM测厚度,那我该怎么制样。用针划?这样会不会把基底划破,或者Sio2薄膜能划破吗?或者利用光刻的方法制作边缘?

没做过AFM,所以完全不懂,求指教。非常感谢
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glorylin

金虫 (小有名气)

引用回帖:
4楼: Originally posted by 石银东 at 2014-12-30 17:20:12
确实AFM的扫描面积很小,用来测量厚度确实有点不太方便,其实,你只是单纯的测量厚度的话,有很多不同仪器、不同的方法进行测试,而且测量比较快,操作简单,都能够测量纳米级别的厚度。
比如薄膜测厚仪运用光学的 ...

感觉现在的高端文献比如石墨烯都是用AFM测得。所以我在想能不能用AFM测我基底上二氧化硅厚度。
12楼2014-12-31 18:10:13
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yswyx

专家顾问 (著名写手)


【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
用HF腐蚀出一个台阶出来。
最好是光刻以后再腐蚀,因为AFM的扫描面积很小。
3楼2014-12-30 17:08:45
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石银东

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
确实AFM的扫描面积很小,用来测量厚度确实有点不太方便,其实,你只是单纯的测量厚度的话,有很多不同仪器、不同的方法进行测试,而且测量比较快,操作简单,都能够测量纳米级别的厚度。
比如薄膜测厚仪运用光学的测量方法,同时可以获得薄膜的反射光谱、透射光谱等光学参数;
再比如面阻测试仪运用电学的测量方法,同时可以获得材料的电阻值。
你可以考虑下。。。
4楼2014-12-30 17:20:12
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nancy10214

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
如果腐蚀,ALD长的氧化铝很快的,BOE也可以腐蚀,不过高温退火后的氧化铝就不能被腐蚀了,所以腐蚀要在退火前进行!
5楼2014-12-31 09:53:30
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