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采用什么方法检测矿物晶体表面、晶体结构、某一晶面的价键特性 已有4人参与
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| 我的主要目的是检测不同硅酸盐矿物的不同解理面的价键特性。首先想通过某种检测方法得到一些例如晶体结构、解理面的性质，然后根据这些数据来分析，具体怎么分析目前我也不是很懂，所以上面的表述也可能存在不专业的地方，请各位大神见谅。还有如果有人专门研究过这方面的问题，能否推荐相关书籍或资料，不胜感激。 |
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lcy507283137
禁虫 (小有名气)
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2楼2014-07-04 17:17:05
3楼2014-07-04 19:48:52
luxtal
至尊木虫 (职业作家)
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喀什部落
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【答案】应助回帖
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wisdom小智: 金币+8, ★★★很有帮助 2014-07-27 10:49:09
wisdom小智: 金币+8, ★★★很有帮助 2014-07-27 10:49:09
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XRD：是研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面： 物相分析 是 X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析； 精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定； 取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构（见择优取向）； 晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小； 对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见晶体缺陷）； 结构分析，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。（仅供参考） |
6楼2014-07-27 07:35:38
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