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xps 数据的校正已有3人参与
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我的是不锈钢氧化膜的XPS数据。一般都用C1s的峰来校正，但我的数据中0s是C1s峰正常(284.8)，30s是有C1s峰(284.8)，但强度很弱，之后就没有C1s峰。现做XPS分峰，30s(包括30s)之后的Ni2P 2/3的峰位置普遍偏低约0.6ev，在此，弱弱的问一句，这是否在正常误差范围内，或是能否随意加上个0.4左右呢？加的话该怎么说明原因呢？ 新手，请大家多多指教。 |
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 百宝箱 | XPS谱 |
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gxytju2008
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3楼2014-01-17 23:49:40
zyhou
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污染碳的C1s为也有人用284.4，甚至284.2的，可以从多个文献入手！ The binding energy (BE) was calibrated with respect to the C 1s level 284.20 eV of contaminated carbon. 我的文献中就是用的 284.20 eV Applied Catalysis A: General, Volume 253, Issue 2, 28 October 2003, Pages 381-387 当时参考的是标准数据库：http://srdata.nist.gov/XPS |
11楼2014-01-19 20:11:18
2楼2014-01-17 17:01:11
天山雪松
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zyhou
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【答案】应助回帖
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感谢参与，应助指数 +1
青梅煮酒.exe: 金币+20, ★★★很有帮助 2014-01-19 19:30:59
王晓萌: 金币+1, 谢谢分享，欢迎常来！ 2014-01-20 12:57:36
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王晓萌: 金币+1, 谢谢分享，欢迎常来！ 2014-01-20 12:57:36
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不清楚你的材料的具体组成，“不锈钢氧化膜”话，是不是材料本身含有微量的碳，从你说的“数据中0s是C1s峰正常(284.8)，30s是有C1s峰(284.8)，但强度很弱，”也似乎意味着是材料本身的碳！ 如果确认不是材料的碳，那么也有可能仪器的偏差较小。 还有，不知道你测量得到的Ni2P 2/3的峰具体是多少？在合金中是否与纯的单一元素有差别？ |
9楼2014-01-19 19:21:55
10楼2014-01-19 19:38:40