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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 用什么仪器可以测粉体的能带结构？
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dance舞舞

金虫 (著名写手)

再见。

[求助] 用什么仪器可以测粉体的能带结构？

RT.我现在知道紫外可见漫反射还有XPS。但是它们的制样比较麻烦，XPS要将粉体制成薄膜，我的样要制备成紫外可见漫反射比较困难。求帮助。

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再见。
1楼 2013-12-08 11:11:39
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dance舞舞

金虫 (著名写手)

再见。
supernatural: 编辑内容 2013-12-08 12:15
supernatural: 本版不允许留下联系方式，这既是版规，也是对用户信息安全的保护，如需联系，请站内联系，望理解 2013-12-08 12:16:07
引用回帖:
2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-12-08 11:14:36
XPS不一定要做成膜啊，粉末可以直接测的，话说XPS已经算制样相当没要求的了，别的，电化学方法，像MS曲线，CV啥的都要涂到电极上的，更麻烦，还有UPS，测功函数的，和XPS一样的制样方法，你可以一起扫一下试试

我的邮箱站内告诉您，谢谢。

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[ Last edited by supernatural on 2013-12-8 at 12:15 ]
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再见。
4楼2013-12-08 11:53:00
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
dance舞舞: 金币+3, ★★★很有帮助 2013-12-08 11:48:29
XPS不一定要做成膜啊，粉末可以直接测的，话说XPS已经算制样相当没要求的了，别的，电化学方法，像MS曲线，CV啥的都要涂到电极上的，更麻烦，还有UPS，测功函数的，和XPS一样的制样方法，你可以一起扫一下试试
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2楼2013-12-08 11:14:36
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dance舞舞

金虫 (著名写手)

再见。
引用回帖:
2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-12-08 11:14:36
XPS不一定要做成膜啊，粉末可以直接测的，话说XPS已经算制样相当没要求的了，别的，电化学方法，像MS曲线，CV啥的都要涂到电极上的，更麻烦，还有UPS，测功函数的，和XPS一样的制样方法，你可以一起扫一下试试

请问您有没有XPS算能带的文献或者资料？或者您大致和我说说。我一直没找到，只找到薄膜算能带的文献。非常感谢。

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再见。
3楼2013-12-08 11:48:16
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)
引用回帖:
3楼: Originally posted by dance舞舞 at 2013-12-08 11:48:16
请问您有没有XPS算能带的文献或者资料？或者您大致和我说说。我一直没找到，只找到薄膜算能带的文献。非常感谢。
...

这个薄膜和粉末不一样的么，那我就不太清楚了，我也只是测过一次，谱觉得质量不高就没再分析这个了，这几个方法互相都不可比的，解释挺麻烦的其实
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5楼2013-12-08 11:53:33
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