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用什么仪器可以测粉体的能带结构?
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用什么仪器可以测粉体的能带结构?
RT.我现在知道紫外可见漫反射还有XPS。但是它们的制样比较麻烦,XPS要将粉体制成薄膜,我的样要制备成紫外可见漫反射比较困难。求帮助。
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2013-12-08 11:48:29
XPS不一定要做成膜啊,粉末可以直接测的,话说XPS已经算制样相当没要求的了,别的,电化学方法,像MS曲线,CV啥的都要涂到电极上的,更麻烦,还有UPS,测功函数的,和XPS一样的制样方法,你可以一起扫一下试试
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Originally posted by
gxytju2008
at 2013-12-08 11:14:36
XPS不一定要做成膜啊,粉末可以直接测的,话说XPS已经算制样相当没要求的了,别的,电化学方法,像MS曲线,CV啥的都要涂到电极上的,更麻烦,还有UPS,测功函数的,和XPS一样的制样方法,你可以一起扫一下试试
请问您有没有XPS算能带的文献或者资料?或者您大致和我说说。我一直没找到,只找到薄膜算能带的文献。非常感谢。
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supernatural: 本版不允许留下联系方式,这既是版规,也是对用户信息安全的保护,如需联系,请站内联系,望理解
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gxytju2008
at 2013-12-08 11:14:36
XPS不一定要做成膜啊,粉末可以直接测的,话说XPS已经算制样相当没要求的了,别的,电化学方法,像MS曲线,CV啥的都要涂到电极上的,更麻烦,还有UPS,测功函数的,和XPS一样的制样方法,你可以一起扫一下试试
我的邮箱站内告诉您,谢谢。
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Last edited by supernatural on 2013-12-8 at 12:15
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dance舞舞
at 2013-12-08 11:48:16
请问您有没有XPS算能带的文献或者资料?或者您大致和我说说。我一直没找到,只找到薄膜算能带的文献。非常感谢。
...
这个薄膜和粉末不一样的么,那我就不太清楚了,我也只是测过一次,谱觉得质量不高就没再分析这个了,这几个方法互相都不可比的,解释挺麻烦的其实
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UPS或者去测循环伏安曲线
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nicklove
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UPS或者去测循环伏安曲线
求教循环伏安曲线。它不是用来测电极反应参数,判断其控制步骤和反应机理的么?怎么变成测能带结构的?
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2013-12-09 17:07:06
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CV曲线当然可以测能带。。只不过不同体系需要不同电解液和支持电解质体系才行,选不好测出来很难解释的,需要尽可能可逆,你找找paper去吧,做这个的很多了
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2013-12-09 17:22:32
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CV曲线当然可以测能带。。只不过不同体系需要不同电解液和支持电解质体系才行,选不好测出来很难解释的,需要尽可能可逆,你找找paper去吧,做这个的很多了
非常感谢您的悉心指教。谢谢。
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