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iceliugc

银虫 (小有名气)

[求助] SEM-EDS 和 XPS

求助做完SEM-EDS的样品,能回收直接去测XPS吗?EDS能谱扫描是分析的微区材料表面的元素含量还是微区整个材料厚度的?真心求解答,万分感谢!!!
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费姚永芬

版主 (文学泰斗)

低眉浅笑岁月空

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【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
iceliugc: 金币+20, ★★★★★最佳答案 2013-09-29 14:49:31
概念:1、EDS的原理是电子束和样品作用,原子的电子发生跃迁,有能量差作为特征X射线放出。
         2、XPS是X光电子能谱,是通过X射线的光子携带的能量给原子的电子能量电离,原子成为离子状态。
         3、能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
问题一:做完SEM-EDS的样品,应该不能回收直接去测XPS
问题二:EDS能谱扫描是分析的微区材料表面的元素含量
XPE发泡技术
2楼2013-09-29 09:19:04
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iceliugc

银虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 费姚永芬 at 2013-09-29 09:19:04
概念:1、EDS的原理是电子束和样品作用,原子的电子发生跃迁,有能量差作为特征X射线放出。
         2、XPS是X光电子能谱,是通过X射线的光子携带的能量给原子的电子能量电离,原子成为离子状态。
         3、能 ...

XPS分析的应该是表面10nm的元素,那EDS表面的深度是多少?几百个nm?  现在是这样的,我的材料中形成了少量结晶体,处理后晶体表层数据显示晶体表面可能形成了一层别的化学物质膜,怎么才能证明这个假说?晶体电镜下可以观察到,但是离散分布。我想的方案是划定晶体区域先测XPS,反应了表层元素含量,最好能在同一位置做EDS,两个技术反应了不同深度的元素含量,从而证明这层膜的存在。并且XPS还能确定这层化学物质是什么。不知道能不能行?只做过SEM-EDS,可行的话,我这边还没有XPS,还要联系别的单位。有别的方法吗?真心真心求助!再次感谢!
3楼2013-09-29 15:05:50
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费姚永芬

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低眉浅笑岁月空

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引用回帖:
3楼: Originally posted by iceliugc at 2013-09-29 15:05:50
XPS分析的应该是表面10nm的元素,那EDS表面的深度是多少?几百个nm?  现在是这样的,我的材料中形成了少量结晶体,处理后晶体表层数据显示晶体表面可能形成了一层别的化学物质膜,怎么才能证明这个假说?晶体电镜下 ...

前一个做过测试,样品有发生微观变化,后面再做,这样设计不合理
XPE发泡技术
4楼2013-09-29 15:10:52
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iceliugc

银虫 (小有名气)

引用回帖:
4楼: Originally posted by 费姚永芬 at 2013-09-29 15:10:52
前一个做过测试,样品有发生微观变化,后面再做,这样设计不合理...

好的,谢谢了!
5楼2013-09-29 15:19:53
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

建议你反过来做,先测XPS,然后EDS,SEM沾乱七八糟东西很容易造成污染的,XPS灵敏度很高的
6楼2013-12-07 13:11:09
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