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ICP-AES测锑(Sb)的误差
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ICP-AES测锑(Sb)的误差
小弟前段时间送样ICP-AES测一个半导体样品,Sb的理论质量分数应该是20%左右,但测出的结果却是约26%。三个成分相近样品都是如此。XRD分析分析样品是纯相;SEM附带的EDS测出的Sb也没有很离谱。所以我想请教的是ICP-AES在测试和分析Sb时有没有可能出现较大的误差?
谢谢!
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1楼
2013-09-01 18:30:01
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2楼
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Originally posted by
xx小小xx
at 2013-09-01 21:58:59
你样品里面还有哪些共存元素?
ICP测锑很久以前测过,大概记得是某些共存元素有谱线重叠的干扰,是钴还是钙或者是其他的记不太清楚了,建议你查一下谱线表
有Se和Sn等。即使有其他元素谱线的干扰,实验员应该也会注意的吧?
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3楼
2013-09-02 08:59:20
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2013-09-02 09:00:20
你样品里面还有哪些共存元素?
ICP测锑很久以前测过,大概记得是某些共存元素有谱线重叠的干扰,是钴还是钙或者是其他的记不太清楚了,建议你查一下谱线表
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2楼
2013-09-01 21:58:59
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段素明
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ICP一般测定大于1ppm的,样品中的Sb,As,Bi等元素用原子荧光测定比较好。
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4楼
2013-09-02 10:14:36
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4楼
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Originally posted by
段素明
at 2013-09-02 10:14:36
ICP一般测定大于1ppm的,样品中的Sb,As,Bi等元素用原子荧光测定比较好。
As、Sb、Bi这些元素是不是比较难溶?
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5楼
2013-09-02 10:57:14
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