| 查看: 2901 | 回复: 11 | ||
[求助]
用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象，如何解决？
|
||
|
如附件图所示。 测量对象是镀有50nmAu膜的玻璃片上放置有聚苯乙烯颗粒，新更换针之后情况会好转，但是马上又发现附件的现象。经常更换针就太费了，求问产生这种现象的原因及解决办法。谢谢：）  TM截图未命名.png |
回复此楼» 猜你喜欢
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有124人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 请问测完AFM后，怎么用软件Nanoscope III获得AFM表面颗粒的平均高度或直径
已经有5人回复
- AFM能用来做溶液样本中的纳米颗粒的表征吗
已经有22人回复
- 原子力显微镜探针针尖曲率半径怎么测量？
已经有2人回复
- 【请教】如何使AFM测量的轮廓线矫平
已经有3人回复
- 【求助】关于原子力显微镜针尖的问题
已经有11人回复
- 【讨论】原子力显微镜拖针怎么回事？
已经有18人回复
freyalovers
银虫 (小有名气)
- 应助: 1 (幼儿园)
- 金币: 370.8
- 散金: 415
- 红花: 2
- 帖子: 71
- 在线: 40.9小时
- 虫号: 383583
- 注册: 2007-05-26
- 专业: 凝聚态物性 II ：电子结构
4楼2013-08-12 20:25:12
freyalovers
银虫 (小有名气)
- 应助: 1 (幼儿园)
- 金币: 370.8
- 散金: 415
- 红花: 2
- 帖子: 71
- 在线: 40.9小时
- 虫号: 383583
- 注册: 2007-05-26
- 专业: 凝聚态物性 II ：电子结构
2楼2013-08-12 11:35:35
3楼2013-08-12 14:04:11
kigeon
金虫 (正式写手)
- 应助: 81 (初中生)
- 金币: 7032.8
- 散金: 588
- 红花: 19
- 帖子: 889
- 在线: 929.4小时
- 虫号: 2328697
- 注册: 2013-03-08
- 性别: MM
- 专业: 胶体与界面化学
5楼2013-08-13 00:13:24
6楼2013-08-14 10:17:15
7楼2013-08-14 10:22:12
freyalovers
银虫 (小有名气)
- 应助: 1 (幼儿园)
- 金币: 370.8
- 散金: 415
- 红花: 2
- 帖子: 71
- 在线: 40.9小时
- 虫号: 383583
- 注册: 2007-05-26
- 专业: 凝聚态物性 II ：电子结构
|
1）扫描范围小的时候高度有时会大一些，这是可能的。原因也很简单: 比如，10微米上取256个扫描点，和1微米上取256个扫描点，肯定是1微米的时候取点更加密集，可能把前面取点时没有取到的那些点也取进来，这样前面没有取到的那些极高或者极低的数据点就反应出来了，高差自然就大了。 2）其实所有的原子力图片都是针尖高差的扫描形貌图，说白了扫描图片是针尖形状+样品表面形貌的耦合图。靠谱的方法是有的。首先，拿到一个新的针尖，再找一个标准的硅刻蚀光栅（其实就是标准的正方形栅格，栅格的高度和宽度已知），拿这个针尖去扫这个光栅，扫描完了之后把针尖的曲率半径等参数计算出来，然后再拿这个校准后的针尖去扫描样品，使用计算软件，代入针尖参数后把真正的形貌图计算出来。这是标准的方法，可惜没有几个人用，因为实在太麻烦了，如果要求不是太高，颗粒的直径完全可以用直接测量的图去计算。 |
8楼2013-08-14 11:17:51
9楼2013-08-15 09:27:47
10楼2013-08-19 16:03:57
20