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用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象，如何解决？
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如附件图所示。 测量对象是镀有50nmAu膜的玻璃片上放置有聚苯乙烯颗粒，新更换针之后情况会好转，但是马上又发现附件的现象。经常更换针就太费了，求问产生这种现象的原因及解决办法。谢谢：）  TM截图未命名.png |
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1）扫描范围小的时候高度有时会大一些，这是可能的。原因也很简单: 比如，10微米上取256个扫描点，和1微米上取256个扫描点，肯定是1微米的时候取点更加密集，可能把前面取点时没有取到的那些点也取进来，这样前面没有取到的那些极高或者极低的数据点就反应出来了，高差自然就大了。 2）其实所有的原子力图片都是针尖高差的扫描形貌图，说白了扫描图片是针尖形状+样品表面形貌的耦合图。靠谱的方法是有的。首先，拿到一个新的针尖，再找一个标准的硅刻蚀光栅（其实就是标准的正方形栅格，栅格的高度和宽度已知），拿这个针尖去扫这个光栅，扫描完了之后把针尖的曲率半径等参数计算出来，然后再拿这个校准后的针尖去扫描样品，使用计算软件，代入针尖参数后把真正的形貌图计算出来。这是标准的方法，可惜没有几个人用，因为实在太麻烦了，如果要求不是太高，颗粒的直径完全可以用直接测量的图去计算。 |
8楼2013-08-14 11:17:51
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