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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 微纳加工 » 用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象，如何解决？
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freyalovers

银虫 (小有名气)
引用回帖:
10楼: Originally posted by iris6550 at 2013-08-19 16:03:57
请问你说的计算软件是大概有哪些？之前没试过用软件做这些。
关于这个方法，我有一个问题。因为针的形状是下小上大，被测物的高度会不会也影响被过大估计的值呢？比如横向一样尺度的结构A,B, 结构B高低起伏较大， ...

有一个比较牛的软件叫做SPIP，但是要花钱买的。还有一个免费的软件，叫做Wxsm，你可以上网去下载，不要钱，但是功能要差很多。


关于宽度变大的问题，你的担心是完全正确的，分析也很到位。可以想象一个方形的台阶，扫描得到的轮廓图应该是一个类似高斯曲线的东西，和实际的形貌差异还是比较大的。不过高度不同，得到的形貌变形量差异也很大，一般说，如果表面起伏小的话，或者要求不高，那么可以忽略掉这个影响。
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11楼2013-08-20 08:12:50
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iris6550

新虫 (小有名气)
内容已删除
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12楼2013-08-20 16:21:28
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