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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 微纳加工 » 用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象，如何解决？
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iris6550

新虫 (小有名气)

[求助] 用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象，如何解决？

如附件图所示。
测量对象是镀有50nmAu膜的玻璃片上放置有聚苯乙烯颗粒，新更换针之后情况会好转，但是马上又发现附件的现象。经常更换针就太费了，求问产生这种现象的原因及解决办法。谢谢：）
用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象，如何解决？
TM截图未命名.png
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1楼 2013-08-12 10:19:00
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freyalovers

银虫 (小有名气)
引用回帖:
10楼: Originally posted by iris6550 at 2013-08-19 16:03:57
请问你说的计算软件是大概有哪些？之前没试过用软件做这些。
关于这个方法，我有一个问题。因为针的形状是下小上大，被测物的高度会不会也影响被过大估计的值呢？比如横向一样尺度的结构A,B, 结构B高低起伏较大， ...

有一个比较牛的软件叫做SPIP，但是要花钱买的。还有一个免费的软件，叫做Wxsm，你可以上网去下载，不要钱，但是功能要差很多。


关于宽度变大的问题，你的担心是完全正确的，分析也很到位。可以想象一个方形的台阶，扫描得到的轮廓图应该是一个类似高斯曲线的东西，和实际的形貌差异还是比较大的。不过高度不同，得到的形貌变形量差异也很大，一般说，如果表面起伏小的话，或者要求不高，那么可以忽略掉这个影响。
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11楼2013-08-20 08:12:50
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freyalovers

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
很多的原子力显微镜无法消除这个问题，可以尝试降低振幅和扫描速度的方式来减小拖针。不知道你用的是什么牌子的原子力显微镜，在一些原子力显微镜中有一种叫做top mode的模式，针尖在一个点采集完高度数据后，自动抬起，到下一点后再下降采集高度，这样重复测完整幅图，这种模式是专门对纳米颗粒、纳米棒、纳米线等材料研发的，如果你机器上有这种模式就可以一劳永逸的解决问题。
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2楼2013-08-12 11:35:35
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iris6550

新虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by freyalovers at 2013-08-12 11:35:35
很多的原子力显微镜无法消除这个问题，可以尝试降低振幅和扫描速度的方式来减小拖针。不知道你用的是什么牌子的原子力显微镜，在一些原子力显微镜中有一种叫做top mode的模式，针尖在一个点采集完高度数据后，自动抬 ...

用的是bruker公司的ICON款，好像没有top mode的模式

这么说，我以为换个新针就会好一点是不会的吗？

请问纳米颗粒，纳米线为什么会出线这类问题呢？是东西被针拖动了的原因吗？
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3楼2013-08-12 14:04:11
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freyalovers

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
iris6550: 金币+15, ★★★很有帮助 2013-08-14 10:17:33
如果没有这种模式，那就只能在调节扫描参数上下功夫了。你看到的拖针，其实就是颗粒跟着针尖跑。理论上方法很多，但是都有一个个去试，如降低振幅，降低扫描速度等，在颗粒上反复多趋近几次，选用小尺寸扫描等。此外也可以选择比较软的针尖。如果多种方法都解决不了，可以尝试用第三方软件后处理消除掉，如spip
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4楼2013-08-12 20:25:12
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