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用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象,如何解决?
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如附件图所示。 测量对象是镀有50nmAu膜的玻璃片上放置有聚苯乙烯颗粒,新更换针之后情况会好转,但是马上又发现附件的现象。经常更换针就太费了,求问产生这种现象的原因及解决办法。谢谢:) TM截图未命名.png |
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6楼2013-08-14 10:17:15
freyalovers
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