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用AFM测量纳米颗粒尺寸经常存在拖针现象，如何解决？
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如附件图所示。 测量对象是镀有50nmAu膜的玻璃片上放置有聚苯乙烯颗粒，新更换针之后情况会好转，但是马上又发现附件的现象。经常更换针就太费了，求问产生这种现象的原因及解决办法。谢谢：）  TM截图未命名.png |
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