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MANOWAR

金虫 (正式写手)

[求助] 请教一下XRD衍射峰强度的问题~

请教一个问题:外延生长单晶薄膜,然后采用XRD进行2θ-ω测试,按理来说,不同材料层会对应一个峰位,但是这个峰位的峰的强度与什么有关?比如厚度、材料质量等~
如果某个层很薄,那么再假设质量没问题的情况下,相比于厚层,是不是其衍射峰强度会弱得多?

如果xrd测试时,最高衍射峰的强度为60万,而另个一薄层的衍射峰强度只有140左右~这个如何解释?

请高手不吝赐教~
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MANOWAR

金虫 (正式写手)

引用回帖:
6楼: Originally posted by police59 at 2013-05-31 22:21:26
涂层的层数太少。你可以去测一下薄膜的厚度,我用的一般都是400 nm左右,数据正常。

我们的薄膜是外延生长的~自下而上厚度分别为100nm-1000nm-15nm-13nm
其中100nm和1000nm所对应的薄膜是能够看到明显的峰的,13nm这个不是很明显,因为半高宽非常大,但是这个15nm的,如果存在,其衍射峰强度弱得多~所以我不确定这个峰到底是不是这15nm薄膜的峰~~
7楼2013-06-01 09:52:09
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luxtal

至尊木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
因为择优取向的关系,各种强度比都可能,有些峰甚至根本不出现。
What_we_observe_is_not_nature_itself,_but_nature_exposed_to_our_method_of_questioning----Werner_Karl_Heisenberg
2楼2013-05-30 22:11:07
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police59

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
感觉上XRD对样品的厚度有最低标准限值。薄膜的话层数太少时XRD有概率没有peak.
明天我们来造
3楼2013-05-31 09:17:38
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MANOWAR

金虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by luxtal at 2013-05-30 22:11:07
因为择优取向的关系,各种强度比都可能,有些峰甚至根本不出现。

你好,我已经说了,是单晶薄膜。
4楼2013-05-31 15:54:47
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