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ruocha_jcmx银虫 (小有名气)
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BET孔容积吸附值和脱附值差距大,是什么问题?
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RT,我测定的BET数据如下所示,吸附和脱附值差距挺大,怎么解决,是什么问题造成的?看文献上的图都很漂亮。。。。。。 还有,一般考虑的是吸附值还是脱附值,求详解 BETshuj.jpg [ 来自科研家族 锂电池世界 ] |
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【答案】应助回帖
★ ★
感谢参与,应助指数 +1
ruocha_jcmx: 金币+2 2012-11-21 15:31:51
感谢参与,应助指数 +1
ruocha_jcmx: 金币+2 2012-11-21 15:31:51
你这个比较好解释。你的测试报告应该是有三种孔容:1,单点总孔孔容:包含所测试的所有的孔(微孔,介孔,大孔)的孔体积,计算方法是最高的氮分压(P/P0)对应的气体吸附量*0.001547得到的。 2,BJH吸附累积总孔孔容,这个孔容是有一个孔区间的,一般是1.7nm--300nm之间的孔作为这个区间范围。 3,BJH脱附累积总孔孔容,这个孔容和吸附一样,也是区间孔容,一般是1.7nm--300nm之间的孔作为这个区间范围。 从你的等温吸脱附曲线来看,脱附测试的最低点才到0.4(对应孔径在4nm左右),而吸附的范围到了1.2nm,可见吸附脱附他们之间的差别就是,吸附支算出来的累积总孔体积是要大于脱附的,且大于的那一部分是1.2nm--4nm之间的孔贡献的。 基于此,我建议楼主主要参考吸附支数据,脱附真心不好。 |

6楼2012-11-20 17:42:08

17楼2012-11-23 16:11:56
2楼2012-11-19 17:55:19
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3楼2012-11-20 11:22:10

4楼2012-11-20 11:48:03

5楼2012-11-20 14:36:05
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7楼2012-11-21 15:24:44
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8楼2012-11-21 15:29:31
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9楼2012-11-21 16:02:50
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首先要明确,BJH法分析出来的微孔体积肯定是不对的。所以你这个图只能得到介孔的最可几孔径,也就是图中最左边那个点对应的孔(估计在2nm左右),同时在10nm左右也存在两个峰,你要是做下dV/dlogrp(一般是dV/dlogD)就可以发祥,其实这块的孔也比较多,也就是说,从上面的图可以得到,比较集中在2nm处,同时10nm的孔也较多。目前分析微孔用的比较多的方法是H-K法,t-图法,DFT(国外仪器)法等。这都是测试后的分析方法而非测试方法,仪器测试方法是一样。 要测试到微孔,首先要求仪器有这个功能,如无法确定,请检查下其压力传感器检测范围,具有100torr目前测试下介孔没问题,具有10torr的压力传感器可以测试下常规微孔大于0.8nm(不同公司可能不一样)左右微孔,具有1torr或者0.1torr压力传感器的可以检测到最低0.35nm的孔。 然后就是测试方法设置,进气量设定(国外基本如此),注意要测试微孔,低压区(P/P0在0.0000001-0.1之间)取点最好不低于20个,这些都做好后进行测试。 有测试数据后,一般会给定测试结果,里面是可以找到微孔孔体积(一般都以直径为1.7nm以下的孔作为微孔),微孔的最可几孔径(孔最集中的地方)等信息的。如果找不到,可以把数据导出来,算出从第一个点到1.7nm那个点的孔的累积吸附量就是微孔孔体积,利用吸附支作孔径分布图,从图上找到峰最高对应的孔径就是最可几孔径。 个人拙见,不对之处还望指正,~~~~ ![]() |

10楼2012-11-21 16:19:23













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你这个比较好解释。你的测试报告应该是有三种孔容:
首先要明确,BJH法分析出来的微孔体积肯定是不对的。所以你这个图只能得到介孔的最可几孔径,也就是图中最左边那个点对应的孔(估计在2nm左右),同时在10nm左右也存在两个峰,你要是做下dV/dlogrp(一般是dV/dlogD)就可以发祥,其实这块的孔也比较多,也就是说,从上面的图可以得到,比较集中在2nm处,同时10nm的孔也较多。