应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » XRD测量薄膜残余应力深度问题
31/1返回列表
查看: 641  |  回复: 2
只看楼主 @他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看

honghuyiba

新虫 (小有名气)

[交流] XRD测量薄膜残余应力深度问题

文献中认为XRD测量的只是薄膜表层很薄一层的平面平均应力状态，但是对于薄膜样品怎样保证测量的深度是表层而非到达界面附近，有经验公式对这个深度进行估算吗？O(∩_∩)O谢谢！！！
回复此楼

» 猜你喜欢

» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:

» 抢金币啦！回帖就可以得到:

查看全部散金贴
1楼 2012-10-25 21:27:23
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

大水杯

木虫 (著名写手)
★ ★
honghuyiba(金币+1): 谢谢参与
lijunjie84: 金币+1, 感谢参与！ 2012-10-30 10:34:38
对薄膜而言，内应力一般用Stoney公式计算
赞一下 回复此楼
2楼2012-10-28 13:41:26
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

honghuyiba

新虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by 大水杯 at 2012-10-28 13:41:26
对薄膜而言，内应力一般用Stoney公式计算

高人能否再详细说一下好吗？O(∩_∩)O谢谢
赞一下 回复此楼
3楼2012-10-29 19:51:02
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
相关版块跳转 我要订阅楼主 honghuyiba 的主题更新
31/1返回列表
普通表情 龙 兔 虎 猫 高级回复 (可上传附件)
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭