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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » TEM的mapping能拍到多少含量的元素
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cwsl7

至尊木虫 (著名写手)

[求助] TEM的mapping能拍到多少含量的元素

最近做了个低掺杂的物质，XPS已经证明了，但是有两种物质，XPS峰不好分，想做下MAPPING，但又怕拍不出来，浪费钱。
哪位有经验的大侠，来解答下～


下面是仪器信息
一、主要部件：
JEOL 2100F主机、X射线能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪(EELS)。
二、主要性能指标：
1、点分辨率：0.24nm；2、线分辨率：0.10nm；3、加速电压：100, 120, 160, 200kV；4、倾斜角：25度；5、STEM分辨率：0.20nm。

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见贤思齐焉，见不贤而内省也
1楼 2012-07-14 22:17:32
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cwsl7

至尊木虫 (著名写手)
ding
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见贤思齐焉，见不贤而内省也
2楼2012-10-27 13:02:37
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wanhao424

禁虫 (初入文坛)
本帖内容被屏蔽
3楼2014-04-04 10:59:25
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