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粉晶样品通常开始扫描的角度? 薄膜试样X射线的入射角?
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haimianc
木虫
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专业: 其他无机非金属材料
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粉晶样品通常开始扫描的角度? 薄膜试样X射线的入射角?
看到XRD课件上有几个个问题 特来请教!非常感谢!
粉晶样品通常开始扫描的角度? 薄膜试样X射线的入射角?
粉晶(多晶)衍射仪为什么要用粉末试样 ?
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积极向上的心态要保持好了
1楼
2012-03-17 10:56:32
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liuj65
木虫
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专业: 无机非金属类电介质与电解
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haimianc: 金币+1,
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很有帮助
2012-04-18 13:56:16
粉用末样品并非很难得到单晶,是为了防止块状样品有择优取向。
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4楼
2012-03-18 09:07:45
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wbcui
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专业: 金属功能材料
【答案】应助回帖
感谢参与,应助指数 +1
一般从标准XRD上第一个衍射峰前5-10 deg开始扫描。所以,针对不同样品,初始角度可以不一样。
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2楼
2012-03-17 20:50:40
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jsxhlhao
木虫
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专业: 高分子物理与高分子物理化
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★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
悠然zx11: 金币+1, 多谢参与交流应助~欢迎常来~
2012-03-18 09:37:22
haimianc: 金币+2,
★★★
很有帮助
2012-04-18 13:56:05
普通粉晶样品的入射角如楼上所说。一般入射角是比较大的。
薄膜样品实际上是多层膜,它们的界面会和薄膜表面的晶面一样,产生相干衍射。因此一般薄膜样品的都是用小角衍射做的。入射角的话至少小于5°。
你的第三个问题,为什么要用粉末试样?因为很难得到单晶。粉末样品是由许多取向不同的微晶杂乱无章的随机组成的,能够有足够多的晶体产生衍射。
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3楼
2012-03-17 21:05:45
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gsd8611
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虫号: 1210695
注册: 2011-02-23
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专业: 半导体电子器件
【答案】应助回帖
★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
wbcui: 金币+2, 多谢帮助
2012-03-18 13:50:31
haimianc: 金币+2,
★★★
很有帮助
2012-04-18 13:56:22
粉晶样品通为20°~90°
薄膜样品如果是多层膜结构的话,一般做小角度衍射1°~6°,观察薄膜的调制结构,看薄膜结构的晶体结构的话一半也做大角度衍射20°~90°
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曾经沧海难为水,除却巫山不是云
5楼
2012-03-18 09:37:32
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