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薄膜厚度测试方法精准度
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c.hen411
金虫
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帖子: 108
在线: 45.2小时
虫号: 1174891
注册: 2010-12-22
性别: GG
专业: 凝聚态物性 II :电子结构
[
求助
]
薄膜厚度测试方法精准度
请问测试薄膜厚度有哪些方法?我之前用过干涉仪侧过,也用台阶仪测过,请问这两种方那个较为精准,我的薄膜厚度大概在200nm-5000nm不等。谢谢各位!
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1楼
2012-03-05 14:24:16
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coronafu
禁虫
(正式写手)
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aishan(金币+1): 鼓励交流 2012-03-07 14:40:02
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10楼
2012-03-07 12:43:43
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ftfxiaoyu
木虫
(正式写手)
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帖子: 429
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虫号: 457081
注册: 2007-11-12
性别: GG
专业: 半导体材料
【答案】应助回帖
★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
c.hen411(金币+3):
★★★
很有帮助 恩,知道了。谢谢啊! 2012-03-05 20:13:19
干涉仪测试的是光学厚度,需要扣除折射率不均匀的影响。台阶仪测试的是接触厚度,主要注意膜的台阶要做得好,否则测试也有误差。相对来说,台阶仪要准些。
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2楼
2012-03-05 17:10:26
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yuan999
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帖子: 6247
在线: 617.6小时
虫号: 591578
注册: 2008-09-02
性别: GG
专业: 半导体光电子器件
管辖:
微米和纳米
【答案】应助回帖
★ ★
感谢参与,应助指数 +1
c.hen411(金币+2):
★
有帮助 恩,谢谢啊 2012-03-05 20:12:36
最直观的方法就是做SEM的截面测试,其它方法误差比较大
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我~心~依~旧
3楼
2012-03-05 19:21:20
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wangyong832
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虫号: 551306
注册: 2008-04-26
专业: 凝聚态物性 II :电子结构
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3楼
:
Originally posted by
yuan999
at 2012-03-05 19:21:20:
最直观的方法就是做SEM的截面测试,其它方法误差比较大
SEM的话,对设备放大倍数提出较高要求
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4楼
2012-03-06 09:06:44
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