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MANOWAR

金虫 (正式写手)

[求助] AlGaN薄膜XRD测量晶格参数~

读文章,遇到一段话:
Due to the epitaxial relationship between AlGaN and c-plane sapphire,the scattering vector of the prism planes (hki0) of AlGaN are parallel to the (0001) sapphire surface, making a direct determination of a impossible for geometric reasons. However using asymmetric reflexes, in our case (10-1-5), a can be calculated for known c, by the quadratic form of Bragg’s equation.
那位能帮忙解释一下?不要仅仅是翻译,翻译我也会,主要是帮忙解释一下此段话所涉及的XRD实际使用时的基本原理~
说的不是很清楚,请见谅~不吝赐教~
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alienpig

木虫 (正式写手)

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drg1984(金币+1): 谢谢! 2012-01-06 17:57:24
MANOWAR(金币+2): 2012-01-11 10:49:58
因为AlGaN是在蓝宝石衬底上以(001)面生长的(即与蓝宝石共c面),这样它的棱柱面(hk0)的衍射矢量就在(001)面内咯。
这句话大约是说为了测定AlGaN的a轴晶格常数,除了对称衍射确定c,还需要进行非对称衍射计算所对应的晶面间距d,由这两个已知值推算a
over
2楼2012-01-06 11:45:31
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