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XRD 2θ-ω扫描的峰,其半高宽用以表征什么?
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MANOWAR
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[交流]
XRD 2θ-ω扫描的峰,其半高宽用以表征什么?
已有9人参与
以下是我的理解:
一般通过XRD 2θ-ω 扫描的谱线,可以得到材料的成分,因为每一种成分都会对应一个峰。
XRD的ω扫描的半高宽用来表征材料的质量,因为此数据与位错等信息有关。
那么XRD 2θ-ω扫描的半高宽是用来表征什么的呢?好像这个数据很少见。
我偶读文献,看到此数据,有些不明白,拿出来跟大家交流一下。请不吝赐教~
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2011-11-24 17:24:12
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gongpei123
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7楼
:
Originally posted by
zhaorq0730
at 2011-11-26 12:34:57:
弱弱的问一下,这个ω角代表的具体含义是什么呀?一直没搞太明白呢,谢谢哦
就是某一特定的θ角
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聪明是先天的天赋,善良是后天的选择
8楼
2011-11-26 13:45:19
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莱古拉斯
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lichun1210(金币+2): 感谢交流~ 2011-11-25 02:13:48
根据半高宽,用谢乐公式:D=kγ/Bcosθ 可以计算粒径。
谢乐公式中的波长是做X射线衍射的靶的光源波长。一般为Cu靶,取0.1542nm,k为晶体形状因子,对于球形一般取0.89,B为半峰宽(弧度),θ 为衍射角。XRD分析软件一般自带粒径计算插件
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我的爱天下不止有风吹过
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2011-11-24 23:36:52
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drg1984
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帝夫(金币+2): 不错的回答哦! 2011-11-25 11:13:10
一般通过XRD 2θ-ω 扫描的谱线,可以得到材料的成分,但不是每一种成分都会对应一个峰。是对几个峰。
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春有百花秋有月,夏有凉风冬有雪。若无闲事挂心头,便是人间好时节。
3楼
2011-11-25 08:43:35
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wuli2011
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帝夫(金币+2): 感谢交流! 2011-11-25 11:13:19
我认为样品有不同的成分,每种成分都有几个峰,每个峰都对应某一个成分的某一个晶面。用谢乐公式,就能计算该反射晶面方向的晶粒尺寸
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4楼
2011-11-25 10:45:15
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